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    中国芯片封测设备取得重大进展!国产存储或将迎来产能大提升!

    信息发布者:魏爱玲
    2018-01-28 10:57:46   转载

    近日,国产厂商嘉合劲威(POWEV)自主研发的存储颗粒测试设备:银芯一号、二号成功面世。不仅填补了国内IC规模化测试的空日领域,还打破了美日韩对于IC规模化测试核心技术的垄断。从此,国内企业再也无需再花巨资引入相关设备。详情一起来了解!

    国产存储领域实现新突破

    银芯一号和银芯二号均采用了全自主研发的自动化测试系统,实现了以智能化操作替代传统的人工操作。所不同的是,银芯一号主要针对的是闪存的存储颗粒,而银芯二号则主要针对固态硬盘的存储颗粒。

    据介绍,该存储颗粒测试设备的检测过程包括基础测试、DC测试(开短路测试、漏电测试、IDD测试等等)、功能测试/模拟测试、速度测试、老化测试等。

    在此过程中,银芯一号和银芯二号不仅实现了全自动进料、出料,还可同时可进行8个测试台的操作,而每个测试台下面都有主板,是可以更换的。这使得该测试设备能够适用于更多不同类型的测试,从而保证了任何品牌的DRAM芯片都可以被检测到。从整个产业角度来看,具有突破性意义。

    打破国外垄断不再受制于人

    在内存生产制造过程当中,DRAM芯片测试可谓最重要的一个环节。然而,由于DRAM芯片测试设备一直被美日韩所垄断,价格非常昂贵,动辄上千万人民币。

    因此,目前国内大部分内存条生产厂家为了节约成本,都使用了最传统的DRAM芯片测试方法——即用人工手工测试DRAM是否能够正常使用。手工测试不仅产能低下,而且容易损毁DRAM,产品不良率大大提高。这也是我国存储产品产能一直受限的重要原因。

    而银芯一号、二号的出现,使得每个批次DRAM芯片的检测时间缩短到了1-3分钟,每天的产能也达到了2万颗。而整台机器功耗仅为2千瓦,既节约了大量的人力,也避免了人工操作可能带来的误测和损坏。

    此举,不仅打破了美日韩对于IC规模化测试的核心技术的垄断,填补了国内IC规模化测试的空白领域,而且大大提升产品良品率,让国产存储产业的产再上了一个台阶。

    助力国产存储实现弯道超车

    近年来,随着国家集成电路产业投资基金(大基金)的推动,科技创新战略提升、政策扶持力度加强,存储器的大规模国产逐渐也迈上了快车道,也催生了一批具有国际先进水平的产业巨头。据悉,目前紫光国芯、佰维、嘉合劲威(Powev)等都堪称存储行业各个领域的龙头。

    不过,尽管国产存储品牌开始崭露头角,但在中国存储市场上,美日韩的品牌占有率仍然相当高。特别是NAND、DRAM,几乎被镁光、海力士、三星、东芝这4家国际存储芯片大厂垄断。而受制于国外巨头的价格策略,国外内存品牌长期在中国市场不仅占据主流,而且价格高启。

    不过,随着国产自主存储封装测试设备的出现,国产存储业的产能将会得到大幅提升,而且其价格也将有所降低,市场竞争力也将有所增强,这无疑将给国产存储行业带来一波发展机会。

    进入2018年,内存供应依然偏紧,价格仍延续上涨的趋势。与此同时,全球的晶圆危机,又让消费市场渴望高性价比的内存条产品。而内存市场的火爆,也将刺激国产晶圆、芯片制造行业,甚至带动中国半导体行业整体的发展。


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